АСМ Кантилеверы, АСМ зонды, СБОМ зонды, ВОПГ, TERS образцы
Оборудование, аксессуары и материалы предназначены для различных областей применения, решения исследовательских проблем, научных измерений, проводимых на оборудовании, производимом большинством мировых компаний, выпускающих сканирующие зондовые микроскопы.
- Публикации
- Комментарии
-
МОДЕЛИРОВАНИЕ ОТКЛОНЕНИЯ КАНТИЛЕВЕРА НА ОСНОВЕПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ
Целью работы является разработка модели АСМ микрокантилевера на основе поликристаллического кремния и получение с ее помощью зависимостей влияния геометрических параметров на его чувствительность. Это позволит провести оптимизацию конструкции микрокантилеверов, которые используются в атомно-силовой микроскопии с оптической системой регистрацией отклонения.
-
Разработки в области наноматериалов и нанотехнологий
Продолжая тему комплексных исследований образцов, ТипсНано разработала модуль для работы в режиме сканирующей термальной микроскопии, предназначенной для одновременного получения изображений термальных свойств и топографии поверхности наноразмерных объектов.
Апгрейд к атомно-силовому микроскопу — Модуль сканирующей термальной микроскопии, а также кантилеверы к модулю.
ТермоМодуль позволяет одновременно получать изображения тепловых свойств и рельефа поверхности объектов нанометрового размера и предназначен для визуализации распределения температуры и теплопроводности на поверхности образца со сверхвысоким разрешением.
ТермоМодуль совместим с большинством АСМ основных производителей (Bruker, NT-MDT, Nanosurf, Agilent, AIST-NT, Anasys, JPK, Park).
-
