Новый функционал стенда для испытаний на сохранение работоспособности ЭКБ «СИТ»

В 2021 году АО «НИИЭТ» разработал и ввел в эксплуатацию в испытательном центре первые образцы стендов для термоэлектротренировки и испытаний транзисторов под шифром «СИТ».

С помощью данных стендов была успешно реализована задача по организации отбраковки силовых транзисторов для АО «РКС». Это, в частности, позволило заказчику заместить в своей продукции ранее применявшиеся дорогостоящие зарубежные транзисторы на отечественные аналоги — производства АО «НИИЭТ».

Главные преимущества разработанных стендов — применение контактного метода термостатирования с помощью теплоотводящих пластин с жидкостным теплообменом, что обеспечило высокую точность поддержания температуры корпусов компонентов с большим тепловыделением, а также индивидуальный контроль температуры каждого испытываемого компонента.

В настоящее время АО «НИИЭТ», исходя из опыта создания двух стендов для собственных нужд предприятия, предлагает потребителям оформить заказ на изготовление стендов для термоэлектротренировки и испытаний на сохранение работоспособности ЭКБ «СИТ».

По сравнению с уже изготовленными стендами АО «НИИЭТ» улучшил функциональные характеристики оборудования.

Существенно доработан блок управления режимами. Теперь все настройки находятся на сенсорной панели и стала возможной запись настройки для определенного типа исследуемого прибора, после чего все источники питания переводятся на заданный режим. По-прежнему возможна установка разных приборов на один и тот же стенд используя одну из зон. Параметры исследуемого прибора находятся автоматически. Также модернизирована сама конструкция и корпус стенда — появилась возможность закрывать оборудование с обеих сторон, нет никаких выступающих деталей.

Стенд «СИТ» производства АО «НИИЭТ» рассчитан на одновременное испытание 30, 50 и 70 изделий в режимах статической и динамической электрической нагрузки.

Помимо отбраковочных испытаний при изготовлении изделий, стенды «СИТ», благодаря высокой точности и широкому диапазону задания параметров тепловой и электрической нагрузки и возможности контроля температурного режима каждого компонента в отдельности, могут применяться для испытаний опытных образцов вновь разрабатываемых электронных компонентов, определения предельных режимов работы, а также для испытаний компонентной базы для таких областей применения, как автомобильная электроника, медицинская техника, промышленная автоматика и т. п. Стенды могут использоваться для испытаний под нагрузкой не только дискретных компонентов, но и микросхем с повышенным тепловыделением, например усилителей или ИС источников питания.

В настоящее время АО «НИИЭТ» принимает заявки на изготовление стендов испытаний транзисторов и автоматических камер теплового удара. Сделать заявку на поставку и узнать более подробную информацию об оборудовании можно на сайте производителя АО «НИИЭТ» https://niiet.r...egory/testing/.

Кстати, а вы знали, что на «Сделано у нас» статьи публикуют посетители, такие же как и вы? И никакой премодерации, согласований и разрешений! Любой может добавить новость. А лучшие попадут в телеграмм @sdelanounas_ru. Подробнее о том как работает наш сайт здесь👈