MAX
Подпишись
стань автором. присоединяйся к сообществу!
21 июля 11
89
Великоросс Модернизация

«Швабе» оснастил российские научные центры сверхсовременным микроскопом

Холдинг «Швабе"(входит в госкорпорацию Ростех) поставил новейшие интерференционно-модуляционные микроскопы МИМ-340 в исследовательские институты Санкт-Петербурга и Москвы.

Современное высокотехнологичное оборудование передано Институту экспериментальной медицины Северо-Западного федерального медицинского исследовательского центра им. В.А. Алмазова и ФГБУ «Всероссийский научно-исследовательский и испытательный институт медицинской техники».

МИМ-340 создан АО «ПО «Уральский оптико-механический завод» имени Э.С. Яламова» (входит в «Швабе»), поставку осуществило ООО «Швабе - Москва».

«Уникальные микроскопы получили ведущие российские исследовательские институты, где проводятся инновационные разработки в области медицины и биологии с использованием широкого спектра современных экспериментальных подходов, — отметил заместитель генерального директора АО «Швабе» по НИОКР и инновационному развитию Николай Ракович. — В первую очередь прибор понадобится для исследований крови: выявления патологии эритроцитов и морфологии опухолевых клеток».

[читать статью полностью...]

Кстати, а вы знали, что на «Сделано у нас» статьи публикуют посетители, такие же как и вы? И никакой премодерации, согласований и разрешений! Любой может добавить новость. А лучшие попадут в наш Телеграм @sdelanounas_ru. Подробнее о том как работает наш сайт здесь👈

Источник: tass.ru

Комментарии 0

Для комментирования необходимо войти на сайт

все комментарии
  • -1
    Нет аватара guest22.07.15 11:55:55

    Видимо можно. «Повышает точностные параметры микроско-

    пов МИМ-300 возможность применения лазерного

    излучения с длиной волны 405 нм, а также исполь-

    зования косого падения света. Как уже говорилось,

    точность интерференционной микроскопии повы-

    шается с уменьшением длины волны света (вспом-

    ните параметр «1/300 от длины волны»), а косое

    падение увеличивает вклад в интерференцион-

    ную картину той части интенсивности излучения,

    которая отвечает за точность определения разме-

    ров мелких деталей топологии образца."

    Можно использовать ту же оптическую систему, но сделать микросокопический поворотный механизм образца. Картинки с разных ракурсов обработать на компе, в итоге увеличить разрешение и получить 3D- изображение.

    Отредактировано: Alexander Korolev~13:01 22.07.15
    #671967 ↑
    • 0
      RadiantConfessor RadiantConfessor22.07.15 14:25:40

      Поворачивать или перемещать что-либо это всегда очень грубо. В производстве микросхем одна из основных проблем это автоматическое совмещение предыдущего экспонирования с текущим.

      Лучше уж пускай оптика относительно стола будет статична.

      Отредактировано: Zveruga~15:27 22.07.15
      #672030 ↑
      • 0
        Нет аватара guest22.07.15 14:35:43

        Посетив сайт производителя Amphora lab, обнаружил 3D изображения разных микрообъектов. как они их, интересно, делают.

        Отредактировано: Alexander Korolev~15:37 22.07.15
        #672033 ↑
        • 0
          RadiantConfessor RadiantConfessor22.07.15 17:26:25

          Ну у них есть координата Z, которая отображается цветом. Определяется она с помощью разницы фаз волны отразившейся от объекта. Такую картинку легко перевести в трёхмерную. Но точность достигается только по глубине, оси Z.

          Вот я и предложил сделать три оси Z под углом к объекту наблюдения. Потом с помощью интерполяции трёх осей Z можно построить более точную картинку не только по вертикали, но и по горизонтали.

          Также такой механизм позволит «заглянуть под объект» лежащий на подложке. К примеру, сейчас сферические объекты на микроскопах МИМ выглядят как соединённые с подложкой. Причина этого как раз в том, что луч светит сверху и не может проникнуть под сферический объект.

          Спора на подложке.

          На самом деле она лежит на подложке и не соединена с ней.

          Отредактировано: Zveruga~18:36 22.07.15
          #672102 ↑
          • 0
            Нет аватара guest22.07.15 18:05:43

            Да, получается что при переходе от 2D к 3D информации о форме объекта не прибавляется, он виден только в вертикальной проекции. Без совершенствования системы можно разглядеть только общие очертания объекта, с одинаковой оптической плотностью. Оптическая неоднородность вещества объекта внесёт дополнительные сложности. Если часть объекта прозрачна для луча, он будет отражаться как от верхней грани, так и от нижних границ оптической плотности, расшифровать изображение может оказаться невозможно. Это накладывает ограничение на качество изображения. При съёмке под разными углами и обработке информации эти ограничения можно преодолеть.

            Можно образец не двигать, увеличение количества оптики в 3 раза скажется на габаритах, надёжности и цене. но это сделать легче.

            #672118 ↑