-
Уникальная естественнонаучная лаборатория для проектной деятельности школьников и студентов ST-LAB.
Это комплекс современных исследовательских приборов, разработанный для проведения междисциплинарных учебно-исследовательских практикумов. Использование лаборатории ST-LAB в процессе обучения в рамках дополнительного и факультативного образования повышает мотивацию учащихся к инженерным и естественнонаучным специальностям и способствует ранней профессиональной ориентации учащихся.
- Состав лаборатории формируется в зависимости от задачи и бюджета Заказчика
- Лаборатория ориентирована на широкий спектр междисциплинарных образовательных траекторий (физика, химия, биология, информатика, математика), решать которые увлекательно и перспективно.
- Лаборатория содержит комплекс лабораторных и проектных работ с исчерпывающим описанием, несколькими уровнями сложности.
- Лаборатория включает в состав тестовые образцы и реактивы, а также расходное оборудование, в том числе хим. посуду, пипетки, пинцеты, покровные стекла
и т. д.
Ключевое оборудование лаборатории:
Учебный сканирующий зондовый микроскоп
Предназначен для проведения измерений методами атомно-силовой и туннельной микроскопии. Прибор ST-LAB прост в управлении и адаптирован для проведения учебных работ, оснащен мощным программным блоком обработки получаемых изображений в режиме реального времени. Позволяет получать качественные изображения с высоким разрешением в считанные минуты.
-
Компактный исследовательский сканирующий зондовый микроскоп Corvus от компании разработчика и производителя ООО «СИТЭК»
Преимущества СЗМ Corvus:
- модульная конструкция;
- плоскопараллельная система сканирования по осям X,Y,Z;
- открытый дизайн сканирующей головки
- высокая разрешающая способность
- мощный программный пакет для обработки полученных изображение в комплекте.
Реализовано более 30 методик сканирующей зондовой микроскопии, включая:
- Контактная мода: измерение нормальных сил, боковых сил, топография (ошибка обратной связи), силовые кривые подвода, отвода
- Колебательные методики: бесконтактная методика (Tapping), режим топографии (ошибка обратной связи),
- Режимы отображения фазы
- Режим снятия силовых кривых в точке скана (Jumping Mode)
- Режим измерения поверхностных потенциалов
- Режим зонда Кельвина
Добавить новость
можно всем, без премодерации, только регистрация